益和精密阻抗分析儀 LCR6632-307種(zhong)頻(pin)率(lv)選項（10Hz 至(zhi) 1/3/5/10/20/30/50MHz），可(ke)(ke)以(yi)進(jin)行(xing)交流信(xin)號的LCR測(ce)(ce)試，測(ce)(ce)試頻(pin)率(lv)和測(ce)(ce)試級別可(ke)(ke)進(jin)行(xing)連續(xu)(xu)變(bian)化的階段測(ce)(ce)量。可(ke)(ke)在不同測(ce)(ce)試、模式條(tiao)件下、進(jin)行(xing)高速(su)地(di)連續(xu)(xu)測(ce)(ce)試。提供(gong)輸出阻抗(kang)25?/100?可(ke)(ke)切換，ALC補償，多(duo)步(bu)測(ce)(ce)試;BIN 分類及比較器功能(neng)在自動元件生產時進(jin)行(xing)良(liang)品與不良(liang)品分類。

特性：

1. 信號源頻率范圍：DC,10Hz-1/3/5/10/20/30/50MHz

2. 基本阻抗測(ce)量精度±0.08%（典型值±0.05%）

3. 自動(dong)電平控制(zhi)（ALC）功能

4. 輸出阻抗(kang)25Ω/100Ω可切換

5. 提供電(dian)表模式、多步測(ce)試、圖形(xing)掃圖、等效電(dian)路(lu)模型分析

6. 內建(jian)直流偏置電(dian)壓±12V，可(ke)另(ling)選購外(wai)掛直流偏置電(dian)壓0到(dao)±40V/電(dian)流±100mA

7. 精準量測(ce)壓(ya)電陶瓷(ci)材料之導納圓繪圖，并(bing)提供(gong)量測(ce)電容之C-V 曲線

8. 超快量測速(su)度<3ms(最(zui)快)

9. 開路/短路/負載校正功能

10. 電表模式下最多可顯(xian)示四個(ge)元件參數(shu)，電感值(zhi)及DCR值(zhi)可同時顯(xian)示

11. 可同時量(liang)測和顯(xian)示自動(dong)元件(jian)分類：比(bi)較器功(gong)能(neng)及Hander接口 BIN分類功(gong)能(neng)

12. 并搭配多樣治具(ju)，如：液態介(jie)電、介(jie)電治具(ju)和導磁系數量測

13. 可搭(da)配(pei)DC BIAS 6243/6240、6223/6220、USB Host/Device等介面(mian)

14. 支援(yuan)RS-232、GPIB、Handler、LAN、USB Host/Device等介面

15. 適用于研發、制(zhi)程、實驗室等檢測領(ling)域

16. 可加購電腦連線軟體

應用：

.被動(dong)元件：電容(rong)器、電感器、電阻器、變壓器、陶瓷(ci)諧振器、石(shi)英晶體

.半(ban)導體(ti)元件：變容二極體(ti)之(zhi)CV特性分析、二極體(ti)

.介(jie)電質材料：塑膠、陶瓷(ci)、印刷電路板的(de)電容率和損耗正切評估導磁材料

.其他(ta)元(yuan)件：電路板上(shang)的元(yuan)件阻抗評估

益和精密阻抗分析儀 LCR6632-30標準配件：

.電源線

.使(shi)用手冊電子檔(dang)光碟(die)

.FX-000C19

.高頻DIP元件測試(shi)治具

輸出阻(zu)抗 25?/100? 和(he)自動電平控制 (ALC)

輸出阻抗 25?/100? 可以切換。自動電平控制 (ALC) 為工程(cheng)師(shi)更量(liang)測(ce)元件。如積(ji)層陶瓷(ci)電容(MLCC)，電容值>1uF，需打開(kai)ALC 量(liang)測(ce)， 因為電容值在(zai)量(liang)測(ce)時有(you)可能(neng)會(hui)低于真(zhen)實的電容量(liang)。一般評(ping)估(gu)電容的參數值有(you) Cs/Cp/D/Q/ESR/DC Bias Voltage。

介電治具/液態介電

使(shi)用介(jie)(jie)電(dian)常數測試(shi)治具(ju) FX-0000C7，6630 內建公(gong)式直接算出(chu)材料介(jie)(jie)電(dian)數值(zhi) εr&＃39;、εr"。評(ping)(ping)估 PCB 空板或陶瓷板等。使(shi)用液態介(jie)(jie)電(dian)治具(ju) FX-000C20，用來(lai)評(ping)(ping)估電(dian)化學(xue)材料特性分(fen)析。

導磁系數：

使用導(dao)磁(ci)系數(shu)測試治具 FX-0000C8，6630 內建公式(shi)直接算各種環形磁(ci)芯或鐵氧(yang)體磁(ci)芯及(ji)電磁(ci)屏蔽(bi)涂層材料(liao)的導(dao)磁(ci)系數(shu) μr&＃39;、μr"。

半導體晶圓或陶瓷積層電容評估直流偏壓電壓特性

實測(ce) Y5V 型 MLCC 元件的直(zhi)流偏壓(ya)特(te)性(xing) ( 尺寸為(wei) 1206 搭(da)載治具(ju) FX-000C12) 在頻(pin)率 100Hz 下串聯(lian)電容值(zhi)為(wei) 9.70uF，利(li)用(yong) 6632 阻抗分析儀(yi)施加 DC Bias 電壓(ya) ±12V，其(qi)電容值(zhi)從 9.7uF 下降至(zhi) 1.46uF。

等效電(dian)路(lu)模(mo)型分析(選購)：

E模型適用于量(liang)測分析(xi)諧(xie)振(zhen)(zhen)器(qi)(qi)，上(shang)圖呈現出兩(liang)個共(gong)振(zhen)(zhen)頻率(lv)(lv)特性(xing)。一般諧(xie)振(zhen)(zhen)器(qi)(qi)、壓電(dian)片、或傳感器(qi)(qi)等元件(jian)在分析(xi)時，有別(bie)于其它元件(jian)的(de)部份在于可能有一個以(yi)上(shang)的(de)共(gong)振(zhen)(zhen)頻率(lv)(lv)。例如為了使(shi)壓電(dian)材料能以(yi)的(de)振(zhen)(zhen)幅出力(li)，就(jiu)需要精準的(de)得知諧(xie)振(zhen)(zhen)頻率(lv)(lv)的(de)范圍。如上(shang)圖所示，以(yi)此模型即可明確的(de)分析(xi)出兩(liang)個共(gong)振(zhen)(zhen)點間的(de)頻率(lv)(lv)。

7 種不(bu)同的(de)模(mo)型(xing)，結合不(bu)同類型(xing)的(de)參(can)數 ( 電阻、電感(gan)、電容 )，目的(de)是用三個或四個元素對阻抗(kang)(kang)與(yu)頻(pin)率特性進行建模(mo)。模(mo)擬自己的(de)等效電路(lu)參(can)數的(de)阻抗(kang)(kang)軌(gui)跡值(zhi)，然后將(jiang)其與(yu)實(shi)際(ji)測(ce)量軌(gui)跡進行比較和參(can)考自諧振頻(pin)率 (SRF)。

PCB 板(ban)繞組電(dian)感線圈

汽車電(dian)(dian)源模組(zu)中越來越多采用(yong)多層(ceng) PCB 板(ban)繞組(zu)而成電(dian)(dian)感(gan)線(xian)圈的結構，因 PCB 蝕刻制程中寄生(sheng)(sheng)于銅箔繞組(zu)上(shang)的寄生(sheng)(sheng)電(dian)(dian)容(rong)、阻值損耗(hao)，會降低(di)整體的電(dian)(dian)感(gan)量(liang)(liang)造成共振頻率 SRF 偏移，這些 PCB 不(bu)良品可能導致成品組(zu)裝(zhuang)測試(shi)出現 NG，可利用(yong) 6632 測量(liang)(liang) PCB 線(xian)圈板(ban)重要(yao)參數 L/Q/DCR/Rs/SRF。

RFID / NFC / 汽車無線天線評估阻抗特性

對(dui)于天(tian)線在(zai)實(shi)際運用上搭載周邊的(de)(de)線路時，針對(dui)發射端(duan)(duan)，天(tian)線一(yi)般連(lian)接在(zai)功率(lv)放大(da)器 (PA)，另一(yi)接收端(duan)(duan)，天(tian)線會接上 LNA，對(dui)于天(tian)線的(de)(de)的(de)(de)特性(xing)即是阻抗的(de)(de)匹配，達(da)到(dao)的(de)(de)功率(lv)輸出(chu)。

可利用 6632 阻(zu)抗分析(xi)儀等(deng)效電路模型分析(xi)，檢視天(tian)線在低頻(pin)階段(duan)，如同電容特性(xing)會有高(gao)(gao)阻(zu)抗，在高(gao)(gao)頻(pin)階段(duan)如同電感性(xing)會有高(gao)(gao)阻(zu)抗，重(zhong)要(yao)的分界點為(wei)共振頻(pin)率，透過繪圖分析(xi)功能檢視寄電容與串(chuan)聯等(deng)效電阻(zu)對整體(ti)阻(zu)抗特性(xing)的影響程度。

壓(ya)電元件/ 石(shi)英晶(jing)體分析(xi)頻率特性

精(jing)準量測壓電(dian)陶瓷材料之導納圓繪圖。分析壓電(dian)元件的關鍵參數如:Fs/Fp/Qm/Kp (機電(dian)耦合系數 )。

規格：

參數量測范圍：

應用范圍：