簡要描述:精(jing)密阻(zu)抗分(fen)(fen)析儀器(qi) 6632 1S,提(ti)供(gong)7種頻(pin)率選項(10Hz 至(zhi) 1/3/5/10/20/30/50MHz),可(ke)以進(jin)行(xing)交流信號的LCR測(ce)試(shi),測(ce)試(shi)頻(pin)率和測(ce)試(shi)級別可(ke)進(jin)行(xing)連續變化的階(jie)段測(ce)量。可(ke)在不同測(ce)試(shi)、模(mo)式條(tiao)件下、進(jin)行(xing)高速地連續測(ce)試(shi)。提(ti)供(gong)輸出(chu)阻(zu)抗25?/100?可(ke)切換,ALC補償(chang),多(duo)步測(ce)試(shi);BIN 分(fen)(fen)類(lei)及比(bi)較器(qi)功能在自動元件生(sheng)產時進(jin)行(xing)良品(pin)與不良品(pin)分(fen)(fen)類(lei)。
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品牌 | 中國臺灣益和 | 應用領域 | 電子 |
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精密阻抗分析儀器 6632 1S,提供7種頻率選項(10Hz 至 1/3/5/10/20/30/50MHz),可以進行交流信號的LCR測試,測試頻率和測試級別可進行連續變化的階段測量。可在不同測試、模式條件下、進行高速地連續測試。提供輸出阻抗25?/100?可切換,ALC補償,多步測試;BIN 分類及比較器功能在自動元件生產時進行良品與不良品分類。內建直流偏置電壓±12V,精準量測壓電陶瓷材料之導納圓繪圖,提供量測電容之直流電壓特性;及選購等效電路分析功能支援7種不同的參數模型(三元件、四元件),可協助客戶模擬元件的等效參數值。可搭配62XX直流偏流源測試系統。且支援RS-232、GPIB、Handler、LAN、USB Host/Device 等介面。
精密阻(zu)抗分析儀(yi)(yi)可搭(da)配各(ge)式各(ge)樣的(de)測試(shi)治(zhi)(zhi)具與配件(jian)。例如(ru):介電(dian)常數(shu)(shu)(shu)測試(shi)治(zhi)(zhi)具 FX-0000C7,儀(yi)(yi)器(qi)內建公式直接(jie)算出材(cai)(cai)料介電(dian)數(shu)(shu)(shu)值(zhi) εr'、εr"。評估 PCB 空板(ban)或陶瓷板(ban)等。使用(yong)(yong)液(ye)態(tai)介電(dian)治(zhi)(zhi)具 FX-000C20,用(yong)(yong)來評估電(dian)化學材(cai)(cai)料特性分析。使用(yong)(yong)導(dao)(dao)磁系數(shu)(shu)(shu)測試(shi)治(zhi)(zhi)具 FX-0000C8,儀(yi)(yi)器(qi)內建公式直接(jie)算各(ge)種環形(xing)磁芯或鐵氧(yang)體磁芯及(ji)電(dian)磁屏蔽涂層材(cai)(cai)料的(de)導(dao)(dao)磁系數(shu)(shu)(shu) μr'、μr"。其內建的(de)公式讓讓量測步驟變(bian)得更為簡易及(ji)快速(su)。
量測精準度及多功能性為種不同類型的工作和應用(yong)程式高要(yao)求的選(xuan)擇,使用(yong)者(zhe)包(bao)括(kuo)半導體、元件廠(chang)商、研發(fa)單位(wei)、進(jin)料檢驗、實驗室、學生。
精密阻抗分析儀器 6632 1S規格(ge)
測試頻率 | 6632-1/1S | 10Hz ~ 1MHz |
6632-3/3S | 10Hz ~ 3MHz | |
6632-5/5S | 10Hz ~ 5MHz | |
6632-10/10S | 10Hz ~ 10MHz | |
6632-20/20S | 10Hz ~ 20MHz | |
6632-30/30S | 10Hz ~ 30MHz | |
6632-50/50S | 10Hz ~ 50MHz | |
* S 為選購等效模型分析功能 | ||
分辨率 | 100mHz, 6位(wei)元頻率輸入 | |
準確度(du) | 7 ppm±100mHz | |
基本測量準確度 | ± 0.08% (典型值± 0.05% ) | |
AC 測試信號位準 | 測試(shi)信號電壓范圍 | 10mV - 2Vrms(100Ω), 10mV - 1Vrms(25Ω) |
電壓分辨率 | 1mV | |
準(zhun)確度(du) | ALC ON:6% * 設定電(dian)壓 ±2mV | |
測(ce)試信號電流(liu)范圍 | 200µA - 20mArms | |
電流(liu)分辨率 | 10µA | |
準確(que)度 | ALC ON:6% * 設定電流 ± 20µA | |
DC測試信號(hao)位準 | 1V (固定) | |
測(ce)量時間 | <3ms | |
輸出阻抗 | 可切(qie)換25Ω、100Ω (標(biao)稱(cheng)值) | |
測試參數(shu) | |Z|(阻抗) Y|(導(dao)納)、θ(相(xiang)位角)、X(電抗)、R(串并聯電阻)、G(電導(dao))、B(電納)、L(電感)、D(損耗因數(shu)(shu)(shu))、Q(品質因數(shu)(shu)(shu))、DCR(直流(liu)電阻) 、C(電容)、 ESR(等效串聯電阻) 、ε (相(xiang)對(dui)介電系(xi)(xi)數(shu)(shu)(shu))、μr (相(xiang)對(dui)導(dao)磁系(xi)(xi)數(shu)(shu)(shu)) | |
Bias | 可(ke)搭配 DC Bias | |
測量模(mo)式(shi) | 電表模(mo)式(shi)、多(duo)步測試、掃描圖形分(fen)(fen)析 等效電路模(mo)型(xing)(xing)分(fen)(fen)析(S型(xing)(xing)號(hao) 選(xuan)購(gou)) | |
等效電路 | 串聯、并聯 | |
校正 | 開路(lu)、短路(lu)、負載(zai) | |
多步列表測(ce)試 | 50組 ,每組15個(ge)測試步驟 | |
等效電(dian)路模型分析 (選(xuan)購(gou)) | 三元件(jian)(jian) (4 種模(mo)型(xing))、四元件(jian)(jian)(3 種模(mo)型(xing)) | |
內(nei)建直流偏置(zhi)電壓(ya) | -12 to +12V, 0.3% ±1.5mV, 100Hz to 30MHz | |
BIN分類(lei) | 9級 | |
比較器 | ABS、ΔABS、Δ%、OFF | |
內建儲存 | 100組LCR Meter測(ce)試設定(ding)文件 、50組多(duo)步測(ce)試設定(ding) | |
USB Host 儲存 | LCR Meter測試設定文件、多步測試設定文件、BMP圖像、掃圖畫面及資料 | |
介(jie)面 | RS-232、GPIB、Handler、LAN、USB Host/Device | |
選購 | 電(dian)腦連線軟體(ti) | |
等(deng)效電(dian)路模型(xing)分(fen)析,三(san)元(yuan)件 (4種模型(xing))、四(si)元(yuan)件 (3種模型(xing)) | ||
電(dian)源需求 | 電壓 90-264Vac | |
頻率 47-63Hz | ||
低功耗:30W | ||
液晶螢幕 | 7吋TFT, 彩色顯(xian)示 (800*480) | |
操(cao)作環境(jing) | 溫度(du):10-40℃、濕度(du):20-90%RH | |
外觀尺(chi)寸(W*H*D) | 336x147x340 mm | |
重量(liang) | 3.95Kg |
參數量測范圍(wei)
|Z| | 0.000 mΩ to 9999.99 MΩ |
R, X | ± 0.000 mΩ to 9999.99 MΩ |
|Y| | 0.00000 μS to 999.999 kS |
G, B | ± 0.00000 μS to 999.999 kS |
θRAD | ± 0.00000 to 3.14159 |
θDEG | ± 0.000° to 180.000° |
Cs, Cp | ± 0.00000 pF to 9999.99 F |
Ls, Lp | ± 0.00 nH to 9999.99 kH |
D | 0.00000 to 9999.99 |
Q | 0.00 to 9999.99 |
Δ | ± 0.00% to 9999.99% |
Rdc | 0.00 mΩ to 99.9999 MΩ |
εr&#39; εr&#39;&#39; | 0 to 100000 |
μr&#39; μr&#39;&#39; | 0 to 100000 |
應用范圍
被動元件 | 電容器(qi)(qi)、電感器(qi)(qi)、電阻器(qi)(qi)、變壓器(qi)(qi)、陶瓷(ci)諧振器(qi)(qi)、石英晶體(ti) |
半導體元件 | 變容二極體之 cv 特性(xing)分析、二極體 |
介(jie)電(dian)質材(cai)料 | 塑膠、陶瓷、印刷電路板(ban)的電容率和(he)損耗正切評估 |
導磁(ci)材料 | |
其(qi)他元件(jian) | 電路板上的(de)元件阻抗評估 |
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