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品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 國產 |
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應用領域 | 電子 |
線纜高壓測試系統,線纜高壓測試儀,線纜高壓測試機
一.應用范圍:
高壓線纜測試儀、新能源充電槍測試儀,模式二功能測試系統,新能源PDU電控箱測試儀,高壓測試機,汽車門板線束測試系統,汽車連接器專業測試設備,電機伺服變頻錨點器測試系統,電源變頻器測試系統,線材連接器測試機,導通機,線圈匝間測試儀(層間測試儀),多通道高壓機
二.設備特點:
1.精密四線試量測(具體溫度補償防呆四線夾具接觸查證)
2.導通電阻(外部溫度補償)高壓(AC DC IR) 元件(電感電容)正負脈沖(電磁鎖)全點位信號控制(PDU控制信號)一站式測試
3.多點位選擇(32P、64P、96P、128P、160P、192P、224P、 256P、---1024P---)后期可以選擇增加板卡模塊
4.導通點位自動學習功能,高壓點位自動抓取功能,設置編輯簡單易懂
5.系統提供打印條碼掃描條碼列印等功能。
6.設備自檢尋點功能點位自定義 I/O接口
7.治具與儀器之間連接用快速接頭連接,更換治具方便
線纜高壓測試系統,線纜高壓測試儀,線纜高壓測試機
名稱(cheng)型號 | Saimr8000-1 | Saimr8000-3 | Saimr8000-5 |
AC耐(nai)壓 | 1KV | 3.0KV | 5KV |
DC耐壓(ya) | 選配 | 3.6KV | 6KV |
DC絕緣 | 1.5KV | 1kv | 1kv |
元件測試(shi)RLCE | 選配 | 選配 | 選(xuan)配 |
導通(tong)測試大電流 | 選(xuan)配 | 選(xuan)配 | 選(xuan)配 |
測試點位(wei) | 32點(dian)/64點(dian)/128點(dian)/256點(dian)/512點(dian)/1024點(dian)/2048點(dian)可選,可后期擴充(chong) |
精密四線式量測 .導通、短路測試
.大電壓導通測試 .大電流導通測試
.高電壓耐壓測試 .高電壓絕緣測試
.*電腦端控制 .自檢功能
.萬用表功能 .測試結果可生成詳細的測試報告
.每個測試點名稱定義 .多路信號獨立控制點
.電阻、二極管、LED等元件檢測
.可與MES系統對接
高(gao)壓擊穿測試(絕緣強度測試) DC | AC | |
電壓類(lei)型 | 50V-6kV DC(選購8kV)步進10V | 50V-5KV 步進10V 50HZ/60HZ |
門限/短路(泄露)電(dian)流 | 0.1-5mA,步距0.1mA | max 10mA |
上升時間 | 0s-65s,步進(jin)0.1s | 0s-65s,步(bu)進0.1s |
保持時間 | 0s-65s,步進0.1s | 0s-65s,步進0.1s |
下降(jiang)時間(jian) | 0S | 0s-65s,步進(jin)0.2s |
***大電流限(xian)制值Imax可編程(cheng)范圍0.1mA到(dao)5mA, DC步進0.1mA | ***大電流限(xian)制值Imax可(ke)編程(cheng)范圍0.5mA到10mA, AC步(bu)進0.1mA | |
***小下沖電流限制值Limit under-shooting Imin 可編程范圍 |
高壓絕緣測試IR |
|
測試電壓 | DC 40-1000V |
步進電壓 | 10V |
測試電(dian)流 | max.2mA |
絕緣測 | 500kΩ-500MΩ(±2%) |
500kΩ-2000MΩ(±5%) | |
2000MΩ-10000MΩ(±15%) | |
編程(cheng)步進500kΩ | |
快速識別(bie)電壓擊穿 | |
大電流導通測試(選購) | |
測試電壓(ya) | DC max.22V |
測試電流(liu) | 50mA-2A |
可編程步進10mA | |
導通測試范 | 0.5Ω-10Ω(±2%) |
10Ω-1kΩ(±5%) | |
可編程步進0.001Ω | |
測試(shi)電(dian)流 | 保持時間:0-60s,可編(bian)程步進100ms |
元件測試(選配) | |
電(dian)感 | 10nH-20KH(±2%) |
電(dian)容 | 10nF-20mF(±5%) |
二極(ji)管(guan) | 正(zheng)向電(dian)壓(ya):<1.0V 反(fan)向電(dian)壓(ya): max.40V |
穩(wen)壓管 | 正(zheng)向電(dian)壓(ya):<3.0V 穩壓(ya)電(dian)壓(ya): max.35V(±10%) |
LED | 正向電壓(ya):<4.0V 反向電壓(ya): max.40V |
備注:以上單個元件的測試可以單獨與(yu)測試點(dian)相連 |
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