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品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 國產 |
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應用領域 | 電子 |
高壓線纜測試儀 SIAMR8000
一.應用范圍
汽車高壓線束測試儀、高壓連接器測試、汽車主線板測試(新能源汽車軟板)、汽車PDU控制箱測試交直流充電槍測試交直流充電座測試等產品
二.設備特點:
1.精密四線試量測(具體溫度補償防呆四線夾具接觸查證)
2.導通電阻(外部溫度補償)高壓(AC DC IR) 元件(電感電容)正負脈沖(電磁鎖)全點位信號控制(PDU控制信號)一站式測試
3.多點位選擇(32P、64P、96P、128P、160P、192P、224P、 256P、---1024P---)后期可以選擇增加板卡模塊
4.導通點位自動學習功能,高壓點位自動抓取功能,設置編輯簡單易懂
5.系統提供打印條碼掃描條碼列印等功能。
6.設備自檢尋點功能點位自定義 I/O接口
7.治具與儀器之間連接用快速接頭連接,更換治具方便
高壓線纜測試儀 SIAMR8000
名稱(cheng)型號 | Saimr8000-1 | Saimr8000-3 | Saimr8000-5 |
AC耐壓 | 1KV | 3.0KV | 5KV |
DC耐壓 | 選配(pei) | 3.6KV | 6KV |
DC絕(jue)緣 | 1.5KV | 1kv | 1kv |
元件測試RLCE | 選配 | 選配 | 選配 |
導通測試大電流(liu) | 選配 | 選配 | 選配 |
測試點位 | 32點(dian)/64點(dian)/128點(dian)/256點(dian)/512點(dian)/1024點(dian)/2048點(dian)可(ke)選,可(ke)后期擴充 |
.精密四線(xian)式量測 .導通、短路測試
.大電(dian)壓導通測試 .大電(dian)流導通測試
.高電壓耐壓測試(shi) .高電壓絕緣測試(shi)
.*電腦(nao)端控制 .自檢功能
.萬用表功能 .測試結果可生成詳細(xi)的測試報告
.每個測(ce)試點名稱定義 .多路信(xin)號獨立(li)控(kong)制點
.電(dian)阻、二(er)極管、LED等元件檢測
.可與MES系統對接
高壓(ya)擊(ji)穿(chuan)測試(絕(jue)緣(yuan)強度測試) DC | AC | |
電壓類型 | 50V-6kV DC(選購8kV)步進10V | 50V-5KV 步進(jin)10V 50HZ/60HZ |
門(men)限(xian)/短路(泄露)電流 | 0.1-5mA,步(bu)距0.1mA | max 10mA |
上升時(shi)間(jian) | 0s-65s,步(bu)進0.1s | 0s-65s,步進0.1s |
保持時間(jian) | 0s-65s,步進(jin)0.1s | 0s-65s,步進0.1s |
下(xia)降(jiang)時間 | 0S | 0s-65s,步進0.2s |
zui大電流限制值(zhi)Imax可編程范(fan)圍0.1mA到5mA, DC步進0.1mA | zui大電流限制值(zhi)Imax可編程范(fan)圍(wei)0.5mA到(dao)10mA, AC步進0.1mA | |
zui小下沖電流限制值Limit under-shooting Imin 可編程范圍 |
高壓絕(jue)緣測(ce)試IR |
|
測試電壓 | DC 40-1000V |
步進電壓(ya) | 10V |
測(ce)試電(dian)流 | max.2mA |
絕緣測 | 500kΩ-500MΩ(±2%) |
500kΩ-2000MΩ(±5%) | |
2000MΩ-10000MΩ(±15%) | |
編程(cheng)步(bu)進500kΩ | |
快速識別電壓擊穿 | |
大電流導通測(ce)試(選(xuan)購(gou)) | |
測試電(dian)壓 | DC max.22V |
測試電流 | 50mA-2A |
可(ke)編程步進10mA | |
導通測試范 | 0.5Ω-10Ω(±2%) |
10Ω-1kΩ(±5%) | |
可編程步進0.001Ω | |
測試(shi)電流 | 保持時間:0-60s,可編程步進100ms |
元(yuan)件測試(選配) | |
電感 | 10nH-20KH(±2%) |
電(dian)容 | 10nF-20mF(±5%) |
二極管 | 正(zheng)向(xiang)電壓:<1.0V 反向(xiang)電壓: max.40V |
穩(wen)壓管 | 正向電(dian)壓:<3.0V 穩壓電(dian)壓: max.35V(±10%) |
LED | 正(zheng)向(xiang)電(dian)壓:<4.0V 反向(xiang)電(dian)壓: max.40V |
備注:以上單個元件(jian)的測試可以單獨與測試點(dian)相連(lian) |
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