簡(jian)要描述:阻抗(kang)分析儀IM3570功能性高(gao)分子(zi)電容的(de)C-D和低(di)ESR測(ce)量(liang)(liang),電感器(線圈、變壓(ya)器)的(de)DCR和L-Q的(de)測(ce)量(liang)(liang) 分析儀模式下可進行掃(sao)頻測(ce)量(liang)(liang)、電平掃(sao)描測(ce)量(liang)(liang)、時間(jian)間(jian)隔測(ce)量(liang)(liang)
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阻抗分析儀IM3570產品特點: 1臺儀(yi)(yi)器實(shi)現LCR測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)、DCR測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)、掃(sao)描測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)等(deng)的(de)連續測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)和(he)高速檢(jian)查(cha) LCR模式(shi)下zui快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的(de)高速測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang) 基本精度(du)±0.08%的(de)高精度(du)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang) 適(shi)用(yong)于(yu)壓(ya)電(dian)元件的(de)共振特性檢(jian)查(cha)、功能性高分(fen)子電(dian)容(rong)的(de)C-D和(he)低ESR測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang),電(dian)感(gan)器(線圈(quan)、變壓(ya)器)的(de)DCR和(he)L-Q的(de)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang) 分(fen)析儀(yi)(yi)模式(shi)下可進行掃(sao)頻測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)、電(dian)平掃(sao)描測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)、時間(jian)間(jian)隔測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
阻抗分析儀IM3570產品詳情:
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